基于门电路的功能测试
一、实验目的
1．熟悉主要门电路的逻辑功能；
2．掌握基本门电路逻辑功能的测试方法；
二、实验内容
1、实验过程图片：
图1
2、实验数据记录：
表1：74LS08N
输入 |
y输出 |
A |
B |
逻辑状态 |
LED |
0 |
0 |
0 |
不亮 |
0 |
1 |
0 |
不亮 |
1 |
0 |
0 |
不亮 |
1 |
1 |
1 |
亮 |
表2：74LS32N
输入 |
输出 |
A |
B |
逻辑状态 |
LED |
0 |
0 |
0 |
不亮 |
0 |
1 |
1 |
亮 |
1 |
0 |
1 |
亮 |
1 |
1 |
1 |
亮 |
表3：74 LS 04N
输入 |
输出 |
A |
逻辑状态 |
LED |
0 |
1 |
亮 |
1 |
0 |
不亮 |
表4：74LS00N
输入 |
输出 |
A |
B |
逻辑状态 |
LED |
0 |
0 |
1 |
亮 |
0 |
1 |
1 |
亮 |
1 |
0 |
1 |
亮 |
1 |
1 |
0 |
不亮 |
表5：74LS02N
输入 |
输出 |
A |
B |
逻辑状态 |
LED |
0 |
0 |
1 |
亮 |
0 |
1 |
0 |
不亮 |
1 |
0 |
0 |
不亮 |
1 |
1 |
0 |
不亮 |
三、实验原理及说明
（一）实验原理
集成电路芯片介绍:
主要的门电路包括与、或、非、与非门、或非门等。在数字电路中广泛应用。无论大规模集成电路多么复杂，但内部也还是由这些基本门电路构成，因此，熟悉它们的功能十分重要。
数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式，其引脚排列规则如图所示。其识别方法是：正对集成电路型号或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1，2，3…依次排列到最后一脚。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc一般排在左上端，接地端（GND）一般排在右下端，如74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。
图2
（二）实验内容
1. 与门逻辑功能的测试：
（1）将74LS08插入实验台14P插座，注意集成块上的标记，不要插错。
（2）将集成块Vcc端与电源+5V相连，GND与电源“地”相连。
（3）选择其中一个与门，将其2个输入端逻辑开关相连，输出端Y与逻辑电平显示器相连，如图1－2。根据表1中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。
图3
2. 或门逻辑功能的测试：
将74LS32集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，选择其中一个或门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑电平显示器相连。根据表2中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。
图4
3. 非门逻辑功能的测试：
将74LS04集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，选择其中一个非门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑电平显示器相连。根据表3中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。
图5
4. 与非门逻辑功能的测试：
将74LS00集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，选择其中一个与非门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑电平显示器相连，根据表4中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。
图6
5. 或非门逻辑功能的测试：
将74LS02集成芯片按照上述方法插入实验箱的14P插座，选择其中一个或非门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑电平显示器相连。根据表5中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。
图7
四、实验设备
一台安装Multisim的PC机。
